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CST-50 打击实验缺口投影仪

概述：

CST-50型打击试样缺口投影仪是为查抄夏比V型或U型打击试样缺口品质而设想、开辟的一种公用光学仪器，与刻在投影屏上的打击试样缺口规范榜样图停止对照，以肯定被检测的打击试样缺口加工是不是及格，对照直观，操纵简略，效力高，是理化实验室的必备公用装备。
手艺参数：

投影屏： ￠200mm

缩小倍数： 50X

光源： 12V 100W（卤钨灯）
电源： 220V 50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm
分量： 约18Kg